




產(chǎn)品簡(jiǎn)介
中圖儀器探針式臺(tái)階儀品牌NS系列主要在材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控中,測(cè)量臺(tái)階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布。
產(chǎn)品分類
中圖儀器探針式臺(tái)階儀品牌NS系列具有亞埃級(jí)分辨率,13μm量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能掃描到幾納米至幾百微米臺(tái)階的形貌特征。主要在材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控中,測(cè)量臺(tái)階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布。

1.參數(shù)測(cè)量功能
(1)臺(tái)階高度:能夠測(cè)量納米到330μm或1050μm的臺(tái)階高度,可以準(zhǔn)確測(cè)量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。
(2)粗糙度與波紋度:能夠測(cè)量樣品的粗糙度和波紋度,分析軟件通過(guò)計(jì)算掃描出的微觀輪廓曲線,可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等數(shù)十項(xiàng)參數(shù)。
(3)應(yīng)力測(cè)量:可測(cè)量多種材料的表面應(yīng)力。
2.測(cè)量模式與分析功能
(1)單區(qū)域測(cè)量模式:完成Focus后根據(jù)影像導(dǎo)航圖設(shè)置掃描起點(diǎn)和掃描長(zhǎng)度,即可開始測(cè)量。
(2)多區(qū)域測(cè)量模式:完成Focus后,根據(jù)影像導(dǎo)航圖完成單區(qū)域掃描路徑設(shè)置,可根據(jù)橫向和縱向距離來(lái)陣列形成若干到數(shù)十?dāng)?shù)百項(xiàng)掃描路徑所構(gòu)成的多區(qū)域測(cè)量模式,一鍵即可完成所有掃描路徑的自動(dòng)測(cè)量。
(3)3D測(cè)量模式:完成Focus后根據(jù)影像導(dǎo)航圖完成單區(qū)域掃描路徑設(shè)置,并可根據(jù)所需掃描的區(qū)域?qū)挾然驋呙杈€條的間距與數(shù)量完成整個(gè)掃描面區(qū)域的設(shè)置,一鍵即可自動(dòng)完成整個(gè)掃描面區(qū)域的掃描和3D圖像重建。
(4)SPC統(tǒng)計(jì)分析:支持對(duì)不同種類被測(cè)件進(jìn)行多種指標(biāo)參數(shù)的分析,針對(duì)批量樣品的測(cè)量數(shù)據(jù)提供SPC圖表以統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)。
3.雙導(dǎo)航光學(xué)影像功能
在NS200-D型號(hào)中配備了正視或斜視的500W像素的彩色相機(jī),在正視導(dǎo)航影像系統(tǒng)中可精確設(shè)置掃描路徑,在斜視導(dǎo)航影像系統(tǒng)中可實(shí)時(shí)跟進(jìn)掃描軌跡。
4.快速換針功能
采用了磁吸式測(cè)針,當(dāng)需要執(zhí)行換針操作時(shí),可現(xiàn)場(chǎng)快速更換掃描測(cè)針,并根據(jù)軟件中的標(biāo)定模塊進(jìn)行快速標(biāo)定,確保換針后的精度和重復(fù)性,減少維護(hù)煩惱。
(1)半導(dǎo)體制造:沉積/蝕刻薄膜厚度測(cè)量、CMP工藝平整度檢測(cè)、抗蝕劑臺(tái)階高度分析,助力芯片良率提升。
(2)光伏&顯示面板:太陽(yáng)能涂層膜厚檢測(cè)、AMOLED屏微結(jié)構(gòu)分析、觸控面板銅跡線測(cè)量,適配光伏組件與顯示器件生產(chǎn)需求。
(3)MEMS&微納材料:微型傳感器形貌表征、柔性電子薄膜厚度檢測(cè),支撐微納器件研發(fā)與量產(chǎn)質(zhì)控。
(4)科研與高校:材料表面應(yīng)力分析、微加工工藝研發(fā)數(shù)據(jù)支撐,加速科研項(xiàng)目落地。

1. 12個(gè)月質(zhì)保期內(nèi)“三包"服務(wù);
2. 3小時(shí)遠(yuǎn)程響應(yīng);
3. 72小時(shí)上門維修;
4. 質(zhì)保期外長(zhǎng)期技術(shù)支持。
中圖儀器探針式臺(tái)階儀品牌NS系列13μm量程下實(shí)現(xiàn)0.01埃分辨率,5?超高解析力,精準(zhǔn)捕捉幾納米至幾百微米的臺(tái)階形貌,為嚴(yán)苛檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)提供硬核數(shù)據(jù)支撐。如需了解產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)、申請(qǐng)樣品測(cè)試,或針對(duì)您的光刻工藝定制專屬檢測(cè)方案,歡迎隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器。
注:產(chǎn)品參數(shù)與服務(wù)可能根據(jù)技術(shù)升級(jí)實(shí)時(shí)更新,具體以新標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn),詳情可咨詢客服獲取完整資料。
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