產(chǎn)品分類(lèi)
中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復(fù)性白光干涉儀一鍵完成單/多區(qū)域自動(dòng)測(cè)量、批量分析,編程測(cè)量功能可預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)一鍵操作,單個(gè)精細(xì)器件測(cè)量用時(shí)短,大幅提升檢測(cè) throughput。
更新時(shí)間:2025-11-07
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:50
SuperViewW工業(yè)表面3D白光干涉檢測(cè)儀可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時(shí)間:2025-10-28
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:115
SuperViewW白光干涉3D表面輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-10-17
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:129
SuperViewW1白光干涉光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-10-15
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:119
SuperViewW納米級(jí)光學(xué)輪廓白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-10-13
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:115
中圖儀器0.1nm分辨率白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-28
產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
瀏覽量:177
關(guān)注公眾號(hào),了解最新動(dòng)態(tài)

Copyright © 2025 深圳市中圖儀器股份有限公司版權(quán)所有
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
備案號(hào):粵ICP備12000520號(hào)
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
影像儀
閃測(cè)儀
激光測(cè)量?jī)x
顯微測(cè)量?jī)x
公司簡(jiǎn)介
企業(yè)文化
榮譽(yù)資質(zhì)
聯(lián)系我們